3. взаимосвязь оптических характеристик и параметров шероховатости поверхности пленок серебра.

Экспериментальные данные об оптических параметрах 40 образцов ПС, полученные из спектров оптической плотности (максимальное значение оптической плотности Dmax, значение ее Dexc на длине волны возбуждения lexc, длина волны lmax в максимуме оптической плотности, полуширина полосы оптической плотности Dl/2, “отстройка” длины волны возбуждения lmax-lexc, произведения и отношения этих параметров- Dmax (Dl/2), Dmax/(Dl/2), Dexc/(Dl/2), Dmax/(Dl/2)(lmax-lexc)), и средние значения параметров шероховатости поверхности этих ПС (максимальная высота Hmax, реальная высота Hreal, поперечные размеры A и B, минимальное расстояние между островками Dist, коэффициенты формы островков Hreal/A, Hreal/B, A/B), полученные из АСМ-изображений, сведены в (табл. 1).

С применением метода корреляционного анализа из программного пакета STATISTICA for Windows были рассчитаны коэффициенты линейной корреляции оптических параметров ПС с результатами АСМ-изучения поверхности пленок (табл. 2).

Установлено, что наиболее коррелируют: максимальное значение оптической плотности с расстоянием между островками (коэффициент корреляции 0,95) и коэффициентом формы островков R (0,76); так называемый параметр “качества” спектра оптической плотности Dmax/(Dl/2) с расстоянием между островками (0,93) и коэффициентом формы островков R (0,68); полуширина полосы оптической плотности с расстоянием между островками (-0,79). В приводимой для сравнения таблице коэффициентов корреляции оптических параметров и параметров шероховатости отдельно для о-ПС (табл. 3) эти зависимости проявляются еще более наглядно (вследствие более точной аппроксимации островков и более достоверной программной обработки АСМ-изображений о-ПС по сравнению с н-ПС).

Результаты факторного анализа (табл. 4, рис. 3,4) также подтверждают наличие взаимосвязей, выявленных методами корреляционного анализа. Факторный анализ проводился методом главных компонент. В соответствии с графиком собственных значений факторов (рис. 3), для нашей модели были выбраны первые четыре фактора. Факторные нагрузки для них приведены в (табл. 4). Из таблицы видно, что первый фактор наиболее значим и именно он объединяет (связывает) оптические параметры с параметрами шероховатости ПС. При этом, как видно из таблицы, наиболее связаны между собой минимальное расстояние между островками Dist, максимальное значение оптической плотности ПС Dmax и параметр спектра оптической плотности ПС Dmax/(Dl/2). Это же иллюстрируется двумерным (рис. 4) графиками факторных нагрузок.


Таблица 1.

Данные по спектрам оптической плотности и параметры шероховатости поверхности пленок серебра

λmax, нм

Dmax·(Δλ/2) , нм

Dmax

Dmax/D2

Dmax/(Δλ/2) , нм-1

Hmax, нм

A, нм B, нм Dist, нм

Hreal, нм

Hreal/A

Hreal/B

A/B
455 87,36 0,84 104 0,0081 70,2 120,0 43,7 112,70 31,5 0,26 2,17 2,75
500 97,96 0,79 121 0,0065 90,3 80,4 56,1 85,44 46,7 0,64 0,84 1,43
445 67,20 0,84 80 0,0105 64,2 74,2 49,4 106,80 38,2 0,52 0,77 1,54
500 90,28 0,61 148 0,0056 100,0 113,2 50,0 80,00 36,5 0,38 0,73 2,27
455 80,01 0,63 127 0,0049 132,7 87,1 51,9 75,00 56,8 0,77 1,15 1,77
457 71,34 0,82 87 0,0094 230,0 120,0 71,9 104,80 131,8 1,10 1,93 1,85
475 80,34 0,78 103 0,0075 244,3 120,0 82,5 94,13 102,0 0,85 1,33 1,45
445 63,65 0,67 95 0,0070 115,4 101,8 80,0 80,00 53,8 0,67 0,80 1,28
430 62,70 0,66 95 0,0069 109,4 90,0 70,0 78,77 40,0 0,44 0,57 1,29
650 275,00 0,55 500 0,0011 2,8 88,8 39,1 57,90 1,4 0,23 0,04 1,98
580 229,50 0,51 450 0,0011 14,6 55,1 26,3 49,69 3,3 0,10 0,13 1,83

 


Таблица 2

Коэффициенты линейной корреляции между параметрами спектров оптической плотности и параметрами шероховатости поверхности пленок серебра

Hmax

A B Dist

Hreal

Hreal/A

Hreal/B

A/B

λmax

Dmax·(Δλ/2)

Dmax

Δλ/2

Dmax/(Δλ/2)

Hmax

1,000 0,660 0,818 0,504 0,963 0,891 0,620 -0,265 -0,578 -0,645 0,495 -0,650 0,572
A 0,660 1,000 0,576 0,596 0,620 0,470 0,726 0,340 -0,374 -0,464 0,456 -0,502 0,470
B 0,818 0,576 1,000 0,414 0,764 0,774 0,366 -0,561 -0,621 -0,681 0,431 -0,680 0,585
Dist 0,504 0,596 0,414 1,000 0,572 0,480 0,830 0,181 -0,705 -0,730 0,954 -0,791 0,930

Hreal

0,963 0,620 0,764 0,572 1,000 0,939 0,667 -0,237 -0,551 -0,613 0,581 -0,630 0,631

Hreal/A

0,891 0,470 0,774 0,480 0,939 1,000 0,535 -0,405 -0,548 -0,621 0,526 -0,636 0,591

Hreal/B

0,620 0,726 0,366 0,830 0,667 0,535 1,000 0,387 -0,611 -0,611 0,760 -0,660 0,676
A/B -0,265 0,340 -0,561 0,181 -0,237 -0,405 0,387 1,000 0,229 0,232 0,012 0,198 -0,134

λmax

-0,578 -0,374 -0,621 -0,705 -0,551 -0,548 -0,611 0,229 1,000 0,973 -0,639 0,954 -0,843

Dmax·(Δλ/2)

-0,645 -0,464 -0,681 -0,730 -0,613 -0,621 -0,611 0,232 0,973 1,000 -0,669 0,992 -0,864

Dmax

0,495 0,456 0,431 0,954 0,581 0,526 0,760 0,012 -0,639 -0,669 1,000 -0,746 0,900
Δλ/2 -0,650 -0,502 -0,680 -0,791 -0,630 -0,636 -0,660 0,198 0,954 0,992 -0,746 1,000 -0,896

Dmax/(Δλ/2)

0,572 0,470 0,585 0,930 0,631 0,591 0,676 -0,134 -0,843 -0,864 0,900 -0,896 1,000

Таблица 3

Коэффициенты линейной корреляции между параметрами спектров оптической плотности и параметрами шероховатости поверхности отожженных пленок серебра

Hmax

A B Dist

Hreal

Hreal/A

Hreal/B

A/B

λmax

Dmax·(Δλ/2)

Dmax

Δλ/2

Dmax/(Δλ/2)

Hmax

1,000 0,556 0,713 0,043 0,942 0,833 0,354 -0,220 0,060 -0,135 0,087 -0,161 0,072
A 0,556 1,000 0,287 0,308 0,488 0,161 0,665 0,526 0,165 0,138 0,089 0,084 0,023
B 0,713 0,287 1,000 -0,223 0,627 0,606 -0,101 -0,657 -0,215 -0,497 -0,092 -0,390 0,056
Dist 0,043 0,308 -0,223 1,000 0,221 -0,010 0,699 0,456 -0,140 0,010 0,906 -0,554 0,838

Hreal

0,942 0,488 0,627 0,221 1,000 0,913 0,455 -0,186 0,019 -0,169 0,278 -0,310 0,282

Hreal/A

0,833 0,161 0,606 -0,010 0,913 1,000 0,230 -0,418 0,002 -0,202 0,143 -0,264 0,147

Hreal/B

0,354 0,665 -0,101 0,699 0,455 0,230 1,000 0,646 -0,049 0,203 0,571 -0,199 0,318
A/B -0,220 0,526 -0,657 0,456 -0,186 -0,418 0,646 1,000 0,231 0,489 0,161 0,354 -0,012

λmax

0,060 0,165 -0,215 -0,140 0,019 0,002 -0,049 0,231 1,000 0,871 -0,043 0,728 -0,373

Dmax·(Δλ/2)

-0,135 0,138 -0,497 0,010 -0,169 -0,202 0,203 0,489 0,871 1,000 0,088 0,727 -0,410

Dmax

0,087 0,089 -0,092 0,906 0,278 0,143 0,571 0,161 -0,043 0,088 1,000 -0,604 0,810
Δλ/2 -0,161 0,084 -0,390 -0,554 -0,310 -0,264 -0,199 0,354 0,728 0,727 -0,604 1,000 -0,830

Dmax/(Δλ/2)

0,072 0,023 0,056 0,838 0,282 0,147 0,318 -0,012 -0,373 -0,410 0,810 -0,830 1,000

Таблица 4

Факторные нагрузки для оптических параметров и параметров шероховатости поверхности пленок серебра
Факторные нагрузки
Метод главных компонент
Фактор Фактор Фактор Фактор
1 2 3 4

λmax, нм

-0,352 0,044 -0,135 -0,885

Dmax·(Δλ/2) , нм

-0,31 -0,28 0,11 -0,85

Dmax

0,97 0,06 0,03 0,02

Dmax /D2

-0,830 -0,228 0,072 -0,462

Dmax/(Δλ/2) , нм-1

0,8748 0,0687 -0,0441 0,3448

Hmax, нм

0,0 1,0 0,2 0,1
A 0,0 0,4 0,9 -0,2
B 0,1 0,9 0,0 -0,1
Dist 0,9 -0,1 0,3 0,2

Hreal, нм

0,1 0,9 0,1 0,2

Hreal/A

-0,01 0,89 -0,17 0,24

Hreal/B

0,36 0,20 0,80 0,19
A/B -0,07 -0,50 0,84 0,02

Рис. 3. График собственных значений факторов, связывающих оптические свойства ПС с параметрами их поверхности.

Рис. 4. Двумерный график факторных нагрузок для факторов, связывающих оптические свойства ПС с параметрами их поверхности.

Установленная нами взаимосвязь между структурой поверхности ПС и их спектрами оптической плотности может быть объяснена следующими соображениями. Рост (в ходе отжига) довольно больших (~45x65 нм) островков как результат самоорганизации кластеров и реорганизации однородной части пленки ведет к почти 10-кратному увеличению R - главной характеристики шероховатости. Это, в свою очередь, способствует синему сдвигу спектра оптической плотности, который определяется, в основном, спектром возбуждения поверхностных плазменных резонансов (плазмонов). Важным следствием структурной реорганизации пленки является значительное увеличение расстояния между соседними частицами серебра на поверхности пленки, поэтому они оказываются более изолированными. В результате диполь- дипольные взаимодействия между этими частицами становятся более слабыми, нежели ранее. Это и определяет, в основном, полуширину спектра оптической плотности ПС.

Четвертая стадия отжига характеризуется процессом унификации формы частиц. Этот процесс также влияет на сужение спектра оптической плотности..


ВЫВОДЫ

Параметры спектров оптической плотности ПС находятся в хорошей корреляции с данными по шероховатости их поверхности, полученными методом АСМ. Основными характеристиками, определяющими эту корреляцию, являются расстояние между частицами серебра Dist, а также коэффициент их формы R, равный отношению высоты (Hreal) к поперечному размеру (B) (R = Hreal/B). Наиболее коррелируют: максимальное значение оптической плотности с расстоянием между островками (коэффициент корреляции 0,95) и коэффициентом формы островков R (0,76); параметр спектра оптической плотности Dmax/(Dl/2) с расстоянием между островками (0,93) и коэффициентом формы островков R (0,68); полуширина полосы оптической плотности с расстоянием между островками (-0,79).


ЛИТЕРАТУРА

1.    Набиев И.Р., Ефремов Р.Г. Cпектроскопия гигантского комбинационного рассеяния и ее применение к изучению биологических молекул / ВИНИТИ.- М., 1989.- 132 c. (Итоги науки и техники. Серия “Биоорганическая химия”, T.15).

2.    Nabiev I.R., Sokolov K.V., Manfait M.. Surface-enhanced Raman spectroscopy and its biomedical applications // Biomolecular spectroscopy / Eds. R. J. H. Clark, R. E. Hester.- London: Wiley, 1993.- P. 267-338.

3.    Maskevich S.A., Gachko G.A., Zanevsky G.V., Podtynchenko S.G. Using of heat treament silver island films to get the SERS spectra of adsorbed molecules // Proc. XIV Int. Conf. Raman Spectr. / Ed. Nai-Teng Yu.-New York: Jon Wiley & Sons, 1994.- P.644-645.

4.    Feofanov A., Ianoul A., Kryukov E., Maskevich S., Vasilyuk G., Kivach L. and Nabiev I. Nondisturbing and Stable SERS-Active Substrates with Increased Contribution of Long-Range Component of Raman Enhancement Created by High-Temperature Annealing of Thick Metal Films// Anal. Chem.- 1997.-V.69.-Р.3731-3740.

5.    Schlegel V.L., Cotton T.M. Silver-island films as substrates for enchanced Raman scattering: effect of deposition rate on intensity// Anal. Chem.- 1991.- V.63, № 3.- P. 241-247.

6.    Semin D.J., Rowlen K.L. Influence of vapor deposition parameters on SERS active Ag films morphology and optical properties// Anal. Chem.- 1994.- V.66, № 23.- P.4324-4331.

7.    Van Duyne R.P., Hultee J.G., Treihel D.A. Atomic force microscopy and surface-enchanced Raman spectroscopy. I. Ag island films and Ag films over polymer nanosphere surfaces supported on glass// J. Chem. Phys.- 1993.- V.99, № 3.- P.2101-2115.

8.    Шалаев В.М., Штокман М.И. Оптические свойства фрактальных кластеров (восприимчивость, гигантское комбинационное рассеяние на примесях) // ЖЭТФ.-1987.-Т.92.-С.509-521.

9.    Schlegel V.L., Cotton T.M. Silver-island films as substrates for enchanced Raman scattering: effect of deposition rate on intensity// Anal. Chem.- 1991.- V.63, № 3.- P. 241-247.

10.  Semin D.J., Rowlen K.L. Influence of vapor deposition parameters on SERS active Ag films morphology and optical properties// Anal. Chem.- 1994.- V.66, № 23.- P.4324-4331.

11.  Van Duyne R.P., Hultee J.G., Treihel D.A. Atomic force microscopy and surface-enchanced Raman spectroscopy. I. Ag island films and Ag films over polymer nanosphere surfaces supported on glass// J. Chem. Phys.- 1993.- V.99, № 3.- P.2101-2115.

12.  Feofanov A., Ianoul A., Kryukov E., Maskevich S., Vasilyuk G., Kivach L. and Nabiev I. Nondisturbing and Stable SERS-Active Substrates with Increased Contribution of Long-Range Component of Raman Enhancement Created by High-Temperature Annealing of Thick Metal Films// Anal. Chem.- 1997.-V.69.-Р.3731-3740.

13.  Маскевич С.А., Свекло И.Ф., Феофанов А.В., Януль А.И., Олейников В.А., Громов С.П., Федорова О.А., Алфимов М.В., Набиев И.Р., Кивач Л.Н. ГКР-активные субстраты , полученные путем высокотемпературного отжига тонких серебряных пленок: сравнительное изучение с использованием атомно-силового микроскопа и ГКР спектроскопии // Оптика и спектр.-1996.-Т.81, №1.-С.95-102.

14.  Dehong L., Zhiai C., Yongzhang L. Surface enchanced Raman scattering from microlithographic silver surfaces// Chinese Phys. Lasers.- 1987.- V.14.- P.429-434.


Информация о работе «Морфологические характеристики ПС и их взаимосвязь с оптическими свойствами»
Раздел: Физика
Количество знаков с пробелами: 17662
Количество таблиц: 4
Количество изображений: 4

Похожие работы

Скачать
26487
0
6

... , которые мы хотим рассмотреть в данный момент. Диапазон фокусировки охватывает предметы, удаленные от наблюдателя на десятки сантиметров до бесконечности. Кроме того, автоматически устанавливается оптическая ось глаза так, чтобы подвергающейся рассматриванию изображение проецировалось на центральную часть сетчатки (фовеа), обладающей наибольшей разрешающей способностью (содержащей в своем составе ...

Скачать
103283
0
0

... В то же время, все физико-химические свойства алмазов подробно изучены и описаны в научной литературе. Уникальные свойства алмазов позволяют использовать эти минералы в различных отраслях хозяйства. Самые чистые и крупные алмазы имеют большую ювелирную ценность. 2. Ресурсы и добыча алмазов. 2.1. Из истории открытия алмазных месторождений. История находок алмазных месторождений очерчивает ...

Скачать
67333
0
0

... встречаются сравнительно редко. Это прежде всего объясняется их спецификой. Следы зубов фиксируются двумя способами: путем фотографирования и путем изготовления слепков, который в преступлениях, сопряженных с изнасилованием, проблематичен. Лучше всего использовать хороший медицинский гипс. Фотографирование следов производится с применением масштаба. Так как снятие слепка может привести к ...

Скачать
75636
3
0

... Результат выражается в коли – индексе, т. Е. количество БГКП, обнаруженных в 1 г почвы. Глава 3 Результаты исследования В ходе работы было проведено микробиологическое исследование образцов грунта пещеры Баскунчакская. Для выделения бактерий, дрожжей и грибов, представляющих естественную микрофлору пещеры, использовались среда МПА, Чапека и Сабуро. Учет численности проводился через 48 часов на ...

0 комментариев


Наверх